OPT OpenIR  > 光谱成像技术研究室
CMOS固定图形噪声分析及处理技术
Meng Nan(孟楠); Li Zitian(李自田); Mao Yibin(毛一斌)
作者部门光谱成像技术实验室
2008
发表期刊科学技术与工程
ISSN1671-1815
卷号8期号:20页码:5563-5566
产权排序1
学科领域物理科学和化学
语种中文
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/10439
专题光谱成像技术研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
Meng Nan(孟楠),Li Zitian(李自田),Mao Yibin(毛一斌). CMOS固定图形噪声分析及处理技术[J]. 科学技术与工程,2008,8(20):5563-5566.
APA Meng Nan,Li Zitian,&Mao Yibin.(2008).CMOS固定图形噪声分析及处理技术.科学技术与工程,8(20),5563-5566.
MLA Meng Nan,et al."CMOS固定图形噪声分析及处理技术".科学技术与工程 8.20(2008):5563-5566.
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