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Extended focused imaging in microscopy using structure tensor and guided filtering 期刊论文
Optics and Lasers in Engineering, 2021, 卷号: 140
作者:  Ren, Zhenbo;  Guan, Peiyan;  Lam, Edmund Y.;  Zhao, Jianlin
Adobe PDF(3705Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：179/1  |  提交时间：2021/02/08
Extended focused imaging  Microscopy  Digital holography  Structure tensor  Guided filter