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一种盖革模式三维激光成像焦平面阵列探测器成像性能测试系统 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN109709533A, 申请日期: 2019-05-03, 公开日期: 2019-05-03
发明人:  孔繁林;  柯尊贵;  周小燕;  钱煜;  袁鎏;  郝昕;  邓世杰;  梁晨宇;  袁菲;  黄海华;  路小龙
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