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电流-温控半导体激光器的光学干涉光源装置及其构成的测量系统 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN110011178A, 申请日期: 2019-07-12, 公开日期: 2019-07-12
发明人:  周延周;  吴路运;  谢侃;  蔡梓超;  谢胜利
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一种基于电流波数扫描的透镜三维轮廓测量装置及方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN109990729A, 申请日期: 2019-07-09, 公开日期: 2019-07-09
发明人:  周延周;  古宇达;  李谦谦;  全绍琛;  蔡瑞涵
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半导体激光器的轴对称温度场控制装置 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN105896308A, 申请日期: 2016-08-24, 公开日期: 2016-08-24
发明人:  周延周;  谢创亮;  吴智新;  刘运红
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三表面干涉式高精度曲面轮廓测量系统及方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN105890538A, 申请日期: 2016-08-24, 公开日期: 2016-08-24
发明人:  周延周;  谢创亮;  刘运红
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透视测量树脂基复合材料内部离面位移场分布的装置及方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN103528524A, 申请日期: 2014-01-22, 公开日期: 2014-01-22
发明人:  周延周;  徐金雄;  刘羽飞
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一种基于干涉条纹图像相位反馈的激光控制器装置及其方法 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN102916339A, 申请日期: 2013-02-06, 公开日期: 2013-02-06
发明人:  周延周;  陈辞;  徐金雄;  白玉磊
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