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半导体激光器退化测试与寿命预测实验平台 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: CN106441806A, 申请日期: 2017-02-22, 公开日期: 2017-02-22
发明人:  王贵山;  杨鹏;  邱静;  刘冠军;  吕克洪;  张勇;  谢皓宇;  沈亲沐;  季明江;  赵志傲;  吴超;  李乾;  李华康;  代岳
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A new image fusion and monitored control system based on Raspberry Pi and Yeelink platform 会议论文
AOPC 2017: Optical Sensing and Imaging Technology and Applications, Beijing, China, 2017-06-04
作者:  Gao, Wei;  Shen, Chao;  Song, Zongxi;  Dan, Lijun;  Wang, Fengtao;  He, Yuqing
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