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Effect of annealing on the electrophysical properties of CdTe/HgCdTe passivation interface by the capacitance-voltage characteristics of the metal-insulator-semiconductor structures 期刊论文
AIP ADVANCES, 2020, 卷号: 10, 期号: 10
作者:  Wang, Xi;  He, Kai;  Chen, Xing;  Li, Yang;  Lin, Chun;  Zhang, Qinyao;  Ye, Zhenhua;  Xin, Liwei;  Gao, Guilong;  Yan, Xin;  Wang, Gang;  Liu, Yiheng;  Wang, Tao;  Tian, Jinshou
Adobe PDF(2258Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：187/2  |  提交时间：2020/11/04