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Measurement of excited layer thickness in highly photo-excited GaAs 会议论文
Optical Measurement Technology and Instrumentation, Beijing, China, 2016-05-09
作者:  Liang, Lingliang;  Tian, Jinshou;  Wang, Tao;  Wu, Shengli;  Li, Fuli;  Gao, Guilong;  Liang, Lingliang (lianglingliang@opt.cn)
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Gallium Arsenide  Optical Data Processing  Optical Variables Measurement  Probes  Semiconducting Gallium