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取样劈板的取样率及取样均匀性干涉测量系统及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN201810253356.4, 申请日期: 2018-12-21, 公开日期: 2018-09-18
发明人:  达争尚;  高立民;  陈永权;  李红光
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反射镜阵列及激光阵列输出光轴平行性建立系统及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN201810253350.7, 申请日期: 2018-12-21, 公开日期: 2018-09-28
发明人:  达争尚;  高立民;  李红光;  董晓娜
Adobe PDF(591Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：129/0  |  提交时间：2018/12/29