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Ge薄膜特性及其在光子计数成像系统中的应用 期刊论文
光学学报, 2009, 卷号: 29, 期号: 11, 页码: 3236-3240
作者:  Zhao Feifei(赵菲菲);  Zhao Baosheng(赵宝升);  Zhang Xinghua(张兴华);  Zou Wei(邹玮);  Sai Xiaofeng(赛小锋);  Wei Yonglin(韦永林)
Adobe PDF(493Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：384/2  |  提交时间：2011/09/30