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一种均匀光源的辐射特性测试装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN202021254161.0, 申请日期: 2021-03-19,
发明人:  昌明;  周艳;  刘锴;  李晶;  薛勋;  宋琦;  曹昆;  万伟;  赵怀学
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一种均匀光源的辐射特性测试装置及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202010620986.8, 申请日期: 2020-06-30, 公开日期: 2020-09-15
发明人:  昌明;  周艳;  刘锴;  李晶;  薛勋;  宋琦;  曹昆;  万伟;  赵怀学
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硅基光学相控阵芯片的设计与测试 学位论文
, 北京: 中国科学院大学, 2020
作者:  张其浩
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集成光器件  光学相控阵  栅瓣抑制  辐射特性测试  初始相位校准  
高增益小型化条纹变像管的设计与实验研究 学位论文
, 北京: 中国科学院大学, 2019
作者:  田丽萍
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小型化条纹相机  亮度增益  时间分辨率  空间分辨率  动态范围  
大孔径静态干涉成像光谱仪定标技术研究 学位论文
: 中国科学院西安光学精密机械研究所., 2006
作者:  陈琦
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遥感  干涉成像光谱仪  定标  信噪比