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一种微腔光频梳重频稳定性测试系统及测试方法
王伟强; 谢鹏; 王信宇; 张文富; 赵卫
2019-11-13
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
授权国家中国
专利类型发明专利
产权排序1
摘要本发明涉及一种光学频率梳重频稳定性测量系统,具体涉及一种微腔光频梳重频稳定性测试系统及测试方法,针对现有微腔光频梳重频稳定性测量系统结构复杂、成本高、以及测量精度对参考源依赖的弊端。该微腔光频梳重频稳定性测试系统包括窄线宽泵浦源、微腔光频梳发生器、光学滤波器、延时自外差干涉模块、光电探测器和频谱分析仪;窄线宽泵浦源、微腔光频梳发生器、光学滤波器、延时自外差干涉模块和光电探测器依次通过光纤连接;光电探测器和频谱分析仪通过电缆进行连接。本发明系统使用成熟的延时自外差法实现超高重频光学频率梳重频稳定性的测试,测试系统具备较高的可靠性。
申请日期2019-11-13
专利号CN201911107212.9
语种中文
专利状态申请中
申请号CN201911107212.9
公开(公告)号CN110967167A
IPC 分类号G01M11/02 ; G01J9/00
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/93958
专题瞬态光学研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
王伟强,谢鹏,王信宇,等. 一种微腔光频梳重频稳定性测试系统及测试方法. CN201911107212.9[P]. 2019-11-13.
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一种微腔光频梳重频稳定性测试系统及测试方(483KB)专利 限制开放CC BY-NC-SA请求全文
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