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一种激光自混频纳米颗粒粒径分布快速测量方法
其他题名一种激光自混频纳米颗粒粒径分布快速测量方法
王华睿; 沈建琪; 蔡小舒
2015-03-25
专利权人江苏师范大学
公开日期2015-03-25
授权国家中国
专利类型发明申请
摘要本发明提供一种激光自混频纳米颗粒粒径分布快速测量方法及装置,测量步骤包括:首先将激光二极管发出的发散光束直接照射到样品池溶液中的纳米颗粒,获得自混频信号,所述自混频信号包含所述纳米颗粒粒径信息;然后将所述自混频信号转变,获得由M个不同频率处的功率组成的功率谱;最后将所述功率谱处理得到所述纳米颗粒粒径分布列向量X。测量装置包括:激光器、样品池、跨阻放大电路和多通道真有效值转换电路。采用发散光束直接照射样品池,极大地简化了光学结构,有效地防止光学器件界面的反射对自混频信号的干扰。采用多通道真有效值转换电路处理信号,降低对数据采集速度、数据采集量、数据储存量和数据处理量等方面的要求,可实现快速测量。
其他摘要本发明提供一种激光自混频纳米颗粒粒径分布快速测量方法及装置,测量步骤包括:首先将激光二极管发出的发散光束直接照射到样品池溶液中的纳米颗粒,获得自混频信号,所述自混频信号包含所述纳米颗粒粒径信息;然后将所述自混频信号转变,获得由M个不同频率处的功率组成的功率谱;最后将所述功率谱处理得到所述纳米颗粒粒径分布列向量X。测量装置包括:激光器、样品池、跨阻放大电路和多通道真有效值转换电路。采用发散光束直接照射样品池,极大地简化了光学结构,有效地防止光学器件界面的反射对自混频信号的干扰。采用多通道真有效值转换电路处理信号,降低对数据采集速度、数据采集量、数据储存量和数据处理量等方面的要求,可实现快速测量。
申请日期2014-12-04
专利号CN104458514A
专利状态失效
申请号CN201410734409.6
公开(公告)号CN104458514A
IPC 分类号G01N15/02
专利代理人汤东凤
代理机构北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/93093
专题半导体激光器专利数据库
作者单位江苏师范大学
推荐引用方式
GB/T 7714
王华睿,沈建琪,蔡小舒. 一种激光自混频纳米颗粒粒径分布快速测量方法. CN104458514A[P]. 2015-03-25.
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CN104458514A.PDF(544KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
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