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用于高阶模式抑制的方法、系统和设备
其他题名用于高阶模式抑制的方法、系统和设备
M·坎斯卡; 陈之纲
2019-08-09
专利权人恩耐公司
公开日期2019-08-09
授权国家中国
专利类型发明申请
摘要一种激光二极管垂直外延结构,包括:横向波导,所述横向波导包括在n型半导体层和p型半导体层之间的有源层,其中所述横向波导由在横向波导的n侧上的低折射率n包覆层和在横向波导的p侧上的低折射率p包覆层界定;侧向波导,所述侧向波导正交于所述横向波导,其中,所述侧向波导在纵向上在第一端由涂覆有高反射器(HR)涂层的腔面界定并且在第二端由涂覆有部分反射器(PR)涂层的腔面界定;以及高阶模式抑制层(HOMSL),所述高阶模式抑制层被设置为邻近侧向波导的至少一个侧边并且所述高阶模式抑制层在纵向上延伸。
其他摘要一种激光二极管垂直外延结构,包括:横向波导,所述横向波导包括在n型半导体层和p型半导体层之间的有源层,其中所述横向波导由在横向波导的n侧上的低折射率n包覆层和在横向波导的p侧上的低折射率p包覆层界定;侧向波导,所述侧向波导正交于所述横向波导,其中,所述侧向波导在纵向上在第一端由涂覆有高反射器(HR)涂层的腔面界定并且在第二端由涂覆有部分反射器(PR)涂层的腔面界定;以及高阶模式抑制层(HOMSL),所述高阶模式抑制层被设置为邻近侧向波导的至少一个侧边并且所述高阶模式抑制层在纵向上延伸。
主权项一种激光二极管垂直外延结构,包括: 横向波导,所述横向波导包括在n型半导体层和p型半导体层之间的有源层,其中,所述横向波导由在所述横向波导的n侧上的低折射率n包覆层和在所述横向波导的p侧上的低折射率p包覆层界定; 侧向波导,所述侧向波导正交于所述横向波导,其中,所述侧向波导在纵向上在第一端由涂覆有高反射器(HR)涂层的腔面界定并且在第二端由涂覆有部分反射器(PR)涂层的腔面界定;以及 高阶模式抑制层(HOMSL),所述高阶模式抑制层被设置为邻近所述侧向波导的至少一个侧边并且所述高阶模式抑制层在纵向上延伸。
申请日期2017-10-27
专利号CN110114945A
专利状态申请中
申请号CN201780080733.2
公开(公告)号CN110114945A
IPC 分类号H01S5/20 | H01S5/10 | H01S5/042 | H01S5/028
专利代理人张伟
代理机构永新专利商标代理有限公司
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/55431
专题半导体激光器专利数据库
作者单位恩耐公司
推荐引用方式
GB/T 7714
M·坎斯卡,陈之纲. 用于高阶模式抑制的方法、系统和设备. CN110114945A[P]. 2019-08-09.
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