OPT OpenIR  > 瞬态光学研究室
高分辨率实时超短脉冲时频域测量装置及方法
孙启兵; 曾超; 王擂然; 张文富; 赵卫
2019-05-29
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2019-09-06
授权国家中国
专利类型发明专利
产权排序1
摘要本发明属于光学测量领域,涉及一种高分辨率实时超短脉冲时频域测量装置及方法。解决了如何实现超短脉冲时频域信息的高分辨率实时测量,提升测量结果的准确性和可靠性技术难题。测量装置包括对待测信号光进行分束的分束单元,用于对待测信号光进行时域放大的时间透镜单元,用于对待测信号光进行傅里叶变换的色散傅里叶变换单元及用于接收测量数据进行探测的探测单元。采用时间透镜和色散傅里叶变换技术实现超短脉冲亚皮秒瞬态特性的实时测量,准确获得其时频域信息,突破了传统示波器带宽及光谱仪测量速度等能力限制,适用于飞秒级超短脉冲。
授权日期2019-05-29
申请日期2019-05-29
专利号CN201910458893.7
语种中文
专利状态申请中
申请号CN201910458893.7
公开(公告)号CN110207837A
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/32111
专题瞬态光学研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
孙启兵,曾超,王擂然,等. 高分辨率实时超短脉冲时频域测量装置及方法. CN201910458893.7[P]. 2019-05-29.
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