OPT OpenIR  > 空间光学技术研究室
一种位姿快速测量系统及方法
林上民; 王虎; 项斌斌; 王娜; 陈钦芳; 刘美莹; 解永杰; 刘阳; 刘杰; 薛要克; 沈阳; 王锋; 于玥
2019-07-19
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2019-11-15
授权国家中国
专利类型发明专利
产权排序1
摘要

本发明提出一种位姿快速测量系统及方法,该系统主要由激光阵列发射系统、光束屏蔽选择系统以及探测器组成。其中,激光阵列发射系统由多组激光出射单元组成,光束屏蔽选择系统由遮光板以及移动平台组成;激光阵列发射系统出射阵列激光覆盖装载于并随待测目标位姿变化的信号接收探测系统运动范围,并由光束屏蔽选择系统确定信号接收探测系统接收到的光束编号,根据提前标定的激光光束打在探测器上形成的两两光斑距离变化获得随待测目标运动的探测器位姿变化,即可快速、实时、精准的获得被测动目标的位姿变化信息。

授权日期2019-07-19
申请日期2019-07-19
专利号CN201910654850.6
语种中文
专利状态申请中
申请号CN201910654850.6
公开(公告)号CN110455181A
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/32003
专题空间光学技术研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
林上民,王虎,项斌斌,等. 一种位姿快速测量系统及方法. CN201910654850.6[P]. 2019-07-19.
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一种位姿快速测量系统及方法.pdf(418KB)专利 限制开放CC BY-NC-SA请求全文
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