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一种小畸变高像质折反光学系统
解来运; 李巧玲; 吴崔罡; 王晓伟
2018-12-14
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2019-04-02
授权国家中国
专利类型发明专利
产权排序1
摘要本发明属于光学系统领域,提供一种小畸变高像质折反光学系统,针对现有折反式光学系统次镜的支撑结构引起杂散光,导致能量会聚力差的问题,该系统包括镜筒、及设置在镜筒内的次镜、透射校正组和主反射镜;次镜的外径与镜筒内镜相适配;主反射镜上设置光阑,次镜的左侧为物面,主反射镜的右侧为像面;主反射镜为中间开设通光孔的球面反射镜,所述次镜为弯向物面的球面镜;次镜靠近主反射镜的表面中部镀有反射膜,形成反射区;次镜镀有反射膜以外的其他区域为透射区;来自物面的光束经过次镜的透射区透射后进入主反射镜;光束经主反射镜反射后到达次镜的反射区,并经反射区反射进入透射校正组,经透射校正组校正后的光束穿过通光孔在像面成像。
主权项一种小畸变高像质折反光学系统,其特征在于:包括镜筒、以及从左至右同轴设置在镜筒内的次镜(2)、透射校正组(3)和主反射镜(1);所述次镜(2)的外径与镜筒内镜相适配;主反射镜(1)上设置光阑,次镜(2)的左侧为物面,主反射镜(1)的右侧为像面; 所述主反射镜(1)为中间开设通光孔的球面反射镜,所述次镜(2)为弯向物面的球面镜; 次镜(2)靠近主反射镜(1)的表面中部镀有反射膜,形成反射区;次镜(2)镀有反射膜以外的其他区域为透射区; 来自物面的光束经过次镜(2)的透射区透射后进入主反射镜(1);光束经主反射镜(1)反射后到达次镜(2)的反射区,并经反射区反射进入透射校正组(3), 经透射校正组(3)校正后的光束穿过通光孔在像面成像。
申请日期2018-12-14
专利号CN201811535582.8
语种中文
专利状态申请中
申请号CN201811535582.8
公开(公告)号CN109557649A
IPC 分类号G02B17/08
专利代理人董娜
代理机构西安智邦专利商标代理有限公司
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31678
专题光学定向与测量技术研究室
作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
第一作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
解来运,李巧玲,吴崔罡,等. 一种小畸变高像质折反光学系统. CN201811535582.8[P]. 2018-12-14.
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