| 一种小畸变高像质折反光学系统 |
| 解来运; 李巧玲; 吴崔罡; 王晓伟
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| 2018-12-14
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专利权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所
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公开日期 | 2019-04-02
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授权国家 | 中国
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专利类型 | 发明专利
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产权排序 | 1
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摘要 | 本发明属于光学系统领域,提供一种小畸变高像质折反光学系统,针对现有折反式光学系统次镜的支撑结构引起杂散光,导致能量会聚力差的问题,该系统包括镜筒、及设置在镜筒内的次镜、透射校正组和主反射镜;次镜的外径与镜筒内镜相适配;主反射镜上设置光阑,次镜的左侧为物面,主反射镜的右侧为像面;主反射镜为中间开设通光孔的球面反射镜,所述次镜为弯向物面的球面镜;次镜靠近主反射镜的表面中部镀有反射膜,形成反射区;次镜镀有反射膜以外的其他区域为透射区;来自物面的光束经过次镜的透射区透射后进入主反射镜;光束经主反射镜反射后到达次镜的反射区,并经反射区反射进入透射校正组,经透射校正组校正后的光束穿过通光孔在像面成像。 |
主权项 | 一种小畸变高像质折反光学系统,其特征在于:包括镜筒、以及从左至右同轴设置在镜筒内的次镜(2)、透射校正组(3)和主反射镜(1);所述次镜(2)的外径与镜筒内镜相适配;主反射镜(1)上设置光阑,次镜(2)的左侧为物面,主反射镜(1)的右侧为像面;
所述主反射镜(1)为中间开设通光孔的球面反射镜,所述次镜(2)为弯向物面的球面镜;
次镜(2)靠近主反射镜(1)的表面中部镀有反射膜,形成反射区;次镜(2)镀有反射膜以外的其他区域为透射区;
来自物面的光束经过次镜(2)的透射区透射后进入主反射镜(1);光束经主反射镜(1)反射后到达次镜(2)的反射区,并经反射区反射进入透射校正组(3),
经透射校正组(3)校正后的光束穿过通光孔在像面成像。 |
申请日期 | 2018-12-14
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专利号 | CN201811535582.8
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语种 | 中文
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专利状态 | 申请中
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申请号 | CN201811535582.8
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公开(公告)号 | CN109557649A
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IPC 分类号 | G02B17/08
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专利代理人 | 董娜
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代理机构 | 西安智邦专利商标代理有限公司
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文献类型 | 专利
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条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31678
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专题 | 光学定向与测量技术研究室
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作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所
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第一作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所
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推荐引用方式 GB/T 7714 |
解来运,李巧玲,吴崔罡,等. 一种小畸变高像质折反光学系统. CN201811535582.8[P]. 2018-12-14.
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