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结构光投影快速测量装置及方法
Alternative Title结构光投影快速测量装置及方法
宋宗玺; 李宝鹏; 雷浩; 淡丽军; 王峰涛; 孙忠涵; 李伟; 成鹏飞; 高伟; 樊学武
2018-12-21
Rights Holder中国科学院西安光学精密机械研究所
Date Available2018-07-24
Country中国
Subtype发明专利
Contribution Rank1
Abstract本发明属于光电检测领域,具体涉及一种结构光投影快速测量装置及方法。测量装置包括相机和布置在相机周围的光学投影系统,所述光学投影系统包括N个衍射光栅和与衍射光栅一一对应的N个光源,光源投影到光栅后产生正弦图案的相移条纹图;N个衍射光栅产生的N幅相移条纹图之间具有2π/N的相位差,N个光源分别通过同步电路与相机相连。本发明解决了现有的测量设备体积大、质量重且测量速度慢的技术问题。
Claim一种结构光投影快速测量装置,其特征在于:包括相机和布置在相机周围的光学投影系统,所述光学投影系统包括N个衍射光栅和与衍射光栅一一对应的N个光源,光源投影到光栅后产生正弦图案的相移条纹图;N个衍射光栅产生的N幅相移条纹图之间具有2π/N的相位差,N个光源分别通过同步电路与相机相连。
Subject AreaG01b11/25
MOST Discipline CatalogueG01
Copyright Date2018-12-21
DOIG01B11
Application Date2018-01-17
Patent NumberCN201810045427.1
Language中文
Status申请中
Application NumberCN201810045427.1
PCT Attributes
Open (Notice) NumberCN108317968A
IPC Classification NumberG01B11/25
Patent Agent陈广民
Agency西安智邦专利商标代理有限公司
Citation statistics
Document Type专利
Identifierhttp://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31052
Collection其它单位_其它部门
Affiliation中国科学院西安光学精密机械研究所
First Author Affilication中国科学院西安光学精密机械研究所
Recommended Citation
GB/T 7714
宋宗玺,李宝鹏,雷浩,等. 结构光投影快速测量装置及方法. CN201810045427.1[P]. 2018-12-21.
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