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结构光投影快速测量装置及方法
其他题名结构光投影快速测量装置及方法
宋宗玺; 李宝鹏; 雷浩; 淡丽军; 王峰涛; 孙忠涵; 李伟; 成鹏飞; 高伟; 樊学武
2018-12-21
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2018-07-24
授权国家中国
专利类型发明专利
产权排序1
摘要本发明属于光电检测领域,具体涉及一种结构光投影快速测量装置及方法。测量装置包括相机和布置在相机周围的光学投影系统,所述光学投影系统包括N个衍射光栅和与衍射光栅一一对应的N个光源,光源投影到光栅后产生正弦图案的相移条纹图;N个衍射光栅产生的N幅相移条纹图之间具有2π/N的相位差,N个光源分别通过同步电路与相机相连。本发明解决了现有的测量设备体积大、质量重且测量速度慢的技术问题。
主权项一种结构光投影快速测量装置,其特征在于:包括相机和布置在相机周围的光学投影系统,所述光学投影系统包括N个衍射光栅和与衍射光栅一一对应的N个光源,光源投影到光栅后产生正弦图案的相移条纹图;N个衍射光栅产生的N幅相移条纹图之间具有2π/N的相位差,N个光源分别通过同步电路与相机相连。
学科领域G01b11/25
学科门类G01
授权日期2018-12-21
DOIG01B11
申请日期2018-01-17
专利号CN201810045427.1
语种中文
专利状态申请中
申请号CN201810045427.1
PCT属性
公开(公告)号CN108317968A
IPC 分类号G01B11/25
专利代理人陈广民
代理机构西安智邦专利商标代理有限公司
引用统计
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31052
专题其它单位_其它部门
作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
第一作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
宋宗玺,李宝鹏,雷浩,等. 结构光投影快速测量装置及方法. CN201810045427.1[P]. 2018-12-21.
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