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一种用于点源透过率测试的改进型腔体
Alternative Title一种用于点源透过率测试的改进型腔体
李朝辉; 李晓辉; 赵建科; 徐亮; 刘峰; 张玺斌; 于敏
2018-12-21
Rights Holder中国科学院西安光学精密机械研究所
Date Available2018-08-17
Country中国
Subtype实用新型
Contribution Rank1
Abstract本实用新型属于光学系统杂散光测试领域,涉及一种用于点源透过率测试的改进型腔体。包括密封腔体及设置在密封腔体外部的光陷阱;密封腔体的侧壁由横截面为优弧的两个曲面对接而成;两个曲面的对接处设入光口;密封腔体的顶部与底部通过平板密封;光陷阱位于与入光口相对的两个曲面的对接处;光陷阱的横截面为等腰梯形。排除了PST测试结果中的“尖峰”噪点。
Claim一种用于点源透过率测试的改进型腔体,包括密封腔体及设置在密封腔体外部的光陷阱;密封腔体的侧壁由横截面为优弧的两个曲面对接而成;两个曲面的对接处设入光口;密封腔体的顶部与底部通过平板密封;其特征在于:所述光陷阱位于与入光口相对的两个曲面的对接处;所述光陷阱的横截面为等腰梯形。
Subject AreaG01n21/59
MOST Discipline CatalogueG01
Copyright Date2018-12-21
DOIG01N21
Application Date2018-01-15
Patent NumberCN201820061726.X
Language中文
Status申请中
Application NumberCN201820061726.X
PCT Attributes
Open (Notice) NumberCN207742114U
IPC Classification NumberG01N21/59
Patent Agent汪海艳
Agency西安智邦专利商标代理有限公司
Citation statistics
Document Type专利
Identifierhttp://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31035
Collection其它单位_其它部门
Affiliation中国科学院西安光学精密机械研究所
First Author Affilication中国科学院西安光学精密机械研究所
Recommended Citation
GB/T 7714
李朝辉,李晓辉,赵建科,等. 一种用于点源透过率测试的改进型腔体. CN201820061726.X[P]. 2018-12-21.
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