Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
一种宽谱段高分辨光谱干涉测量方法及装置 | |
其他题名 | 一种宽谱段高分辨光谱干涉测量方法及装置 |
严强强; 魏儒义; 陈莎莎; 于建东; 王帅 | |
2018-12-21 | |
专利权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
公开日期 | 2018-09-07 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 发明专利 |
产权排序 | 1 |
摘要 | 本发明属于光学探测领域,特别涉及一种宽谱段高分辨光谱干涉测量方法及装置。首先将目标光准直后色散至探测器行像元或列像元上;然后将沿探测器行像元或列像元方向色散的光谱按照不同谱段反射至同一平面的不同位置;再将步骤二中反射光束准直后进入干涉模块获得干涉条纹;再将干涉条纹沿与干涉条纹垂直方向压缩;最后将压缩后的干涉条纹沿探测器行像元方向或列像元方向进行二次色散,获得高分辨光谱干涉条纹。解决了宽谱段高分辨率光谱干涉受到探测器行或者列像元数限制、交叉色散导致光谱谱线弯曲等的问题,实现一种宽谱段,高精度,高信噪比的视向速度探测方案。 |
主权项 | 一种宽谱段高分辨光谱干涉测量方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤一:将目标光准直后色散至探测器行像元或列像元上; 步骤二:将沿探测器行像元或列像元方向色散的光谱按照不同谱段反射至同一平面的不同位置; 步骤三:将步骤二中反射光束准直后进入干涉模块获得干涉条纹; 步骤四:将干涉条纹沿与干涉条纹垂直方向压缩; 步骤五:将步骤四中压缩后的干涉条纹沿探测器行像元方向或列像元方向进行二次色散,获得高分辨光谱干涉条纹。 |
学科领域 | G01j3/45 |
学科门类 | G01 |
授权日期 | 2018-12-21 |
DOI | G01J3 |
申请日期 | 2018-03-15 |
专利号 | CN201810214246.7 |
语种 | 中文 |
专利状态 | 申请中 |
申请号 | CN201810214246.7 |
PCT属性 | 否 |
公开(公告)号 | CN108507679A |
IPC 分类号 | G01J3/45 ; G01J3/28 ; G01J3/02 |
专利代理人 | 汪海艳 |
代理机构 | 西安智邦专利商标代理有限公司 |
引用统计 | |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31020 |
专题 | 热控技术研究室_其它单位_其它部门 |
作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
第一作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 严强强,魏儒义,陈莎莎,等. 一种宽谱段高分辨光谱干涉测量方法及装置. CN201810214246.7[P]. 2018-12-21. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
2018102142467.pdf(1315KB) | 专利 | 限制开放 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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