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一种宽谱段高分辨光谱干涉测量方法及装置
其他题名一种宽谱段高分辨光谱干涉测量方法及装置
严强强; 魏儒义; 陈莎莎; 于建东; 王帅
2018-12-21
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2018-09-07
授权国家中国
专利类型发明专利
产权排序1
摘要本发明属于光学探测领域,特别涉及一种宽谱段高分辨光谱干涉测量方法及装置。首先将目标光准直后色散至探测器行像元或列像元上;然后将沿探测器行像元或列像元方向色散的光谱按照不同谱段反射至同一平面的不同位置;再将步骤二中反射光束准直后进入干涉模块获得干涉条纹;再将干涉条纹沿与干涉条纹垂直方向压缩;最后将压缩后的干涉条纹沿探测器行像元方向或列像元方向进行二次色散,获得高分辨光谱干涉条纹。解决了宽谱段高分辨率光谱干涉受到探测器行或者列像元数限制、交叉色散导致光谱谱线弯曲等的问题,实现一种宽谱段,高精度,高信噪比的视向速度探测方案。
主权项一种宽谱段高分辨光谱干涉测量方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤一:将目标光准直后色散至探测器行像元或列像元上; 步骤二:将沿探测器行像元或列像元方向色散的光谱按照不同谱段反射至同一平面的不同位置; 步骤三:将步骤二中反射光束准直后进入干涉模块获得干涉条纹; 步骤四:将干涉条纹沿与干涉条纹垂直方向压缩; 步骤五:将步骤四中压缩后的干涉条纹沿探测器行像元方向或列像元方向进行二次色散,获得高分辨光谱干涉条纹。
学科领域G01j3/45
学科门类G01
授权日期2018-12-21
DOIG01J3
申请日期2018-03-15
专利号CN201810214246.7
语种中文
专利状态申请中
申请号CN201810214246.7
PCT属性
公开(公告)号CN108507679A
IPC 分类号G01J3/45 ; G01J3/28 ; G01J3/02
专利代理人汪海艳
代理机构西安智邦专利商标代理有限公司
引用统计
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31020
专题其它单位_其它部门
作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
第一作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
严强强,魏儒义,陈莎莎,等. 一种宽谱段高分辨光谱干涉测量方法及装置. CN201810214246.7[P]. 2018-12-21.
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