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一种大口径均匀光源的均匀性测试装置及方法
Alternative Title一种大口径均匀光源的均匀性测试装置及方法
昌明; 赵建科; 李晶; 薛勋; 曹昆; 胡丹丹
2018-12-21
Rights Holder中国科学院西安光学精密机械研究所
Date Available2018-09-14
Country中国
Subtype发明专利
Contribution Rank1
Abstract本发明涉及光学测试技术领域,针对现有均匀光源均匀性测试装置中,面均匀性测试装置有效扫描区域不完整,角均匀性测试装置不能通用、结构复杂、难以满足均匀光源出射面直径不断增大的实际需要,提供一种大口径均匀光源的均匀性测试装置及方法。其中测试装置包括支架、升降装置、平台位置转换装置、载物台、摆臂、滑块、探测器位置转换装置、光亮度探测器以及测量控制系统;升降装置设置在支架上,载物台通过平台位置转换装置设置在升降装置上;载物台设置旋转电机,摆臂安装在旋转电机的输出端;滑块安装在摆臂上,光亮度探测器通过探测器位置转换装置安装在滑块上,光亮度探测器、旋转电机和滑块驱动电机分别与测量控制系统电连接。
Claim-
Subject AreaG01m11/02
MOST Discipline CatalogueG01
Copyright Date2018-12-21
DOIG01M11
Application Date2018-03-23
Patent NumberCN201810245491.4
Language中文
Status申请中
Application NumberCN201810245491.4
PCT Attributes
Open (Notice) NumberCN108534994A
IPC Classification NumberG01M11/02
Patent Agent倪金荣
Agency西安智邦专利商标代理有限公司
Citation statistics
Document Type专利
Identifierhttp://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31013
Collection其它单位_其它部门
Affiliation中国科学院西安光学精密机械研究所
First Author Affilication中国科学院西安光学精密机械研究所
Recommended Citation
GB/T 7714
昌明,赵建科,李晶,等. 一种大口径均匀光源的均匀性测试装置及方法. CN201810245491.4[P]. 2018-12-21.
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2018102454914.pdf(1197KB)专利 暂不开放CC BY-NC-SAApplication Full Text
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