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一种大口径均匀光源的均匀性测试装置及方法
其他题名一种大口径均匀光源的均匀性测试装置及方法
昌明; 赵建科; 李晶; 薛勋; 曹昆; 胡丹丹
2018-12-21
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2018-09-14
授权国家中国
专利类型发明专利
产权排序1
摘要本发明涉及光学测试技术领域,针对现有均匀光源均匀性测试装置中,面均匀性测试装置有效扫描区域不完整,角均匀性测试装置不能通用、结构复杂、难以满足均匀光源出射面直径不断增大的实际需要,提供一种大口径均匀光源的均匀性测试装置及方法。其中测试装置包括支架、升降装置、平台位置转换装置、载物台、摆臂、滑块、探测器位置转换装置、光亮度探测器以及测量控制系统;升降装置设置在支架上,载物台通过平台位置转换装置设置在升降装置上;载物台设置旋转电机,摆臂安装在旋转电机的输出端;滑块安装在摆臂上,光亮度探测器通过探测器位置转换装置安装在滑块上,光亮度探测器、旋转电机和滑块驱动电机分别与测量控制系统电连接。
主权项-
学科领域G01m11/02
学科门类G01
授权日期2018-12-21
DOIG01M11
申请日期2018-03-23
专利号CN201810245491.4
语种中文
专利状态申请中
申请号CN201810245491.4
PCT属性
公开(公告)号CN108534994A
IPC 分类号G01M11/02
专利代理人倪金荣
代理机构西安智邦专利商标代理有限公司
引用统计
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31013
专题其它单位_其它部门
作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
第一作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
昌明,赵建科,李晶,等. 一种大口径均匀光源的均匀性测试装置及方法. CN201810245491.4[P]. 2018-12-21.
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