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一种使用CMOS探测器的工业相机的自动曝光方法
其他题名一种使用CMOS探测器的工业相机的自动曝光方法
孔亮; 闫鹏; 温志刚; 武琪敬; 刘永征; 刘文龙; 周冠
2018-12-21
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2018-09-18
授权国家中国
专利类型发明专利
产权排序1
摘要本发明涉及一种使用CMOS探测器的工业相机的自动曝光方法。该方法实现了CMOS相机的自动曝光功能的快速收敛,其主要步骤包括:【1】在光照固定的情况下,建立CMOS探测器中图像灰度值与曝光时间档位的数学关系,并将该数学关系输入至工业相机内;【2】确定图像的参考灰度值D0;【3】确定当前曝光时间下的图像灰度值D1;【4】确定正确的自动曝光时间档位E0。
主权项-
学科领域H04n5/235
学科门类H04
授权日期2018-12-21
DOIH04N5
申请日期2018-05-16
专利号CN201810470177.6
语种中文
专利状态申请中
申请号CN201810470177.6
PCT属性
公开(公告)号CN108551555A
IPC 分类号H04N5/235 ; H04N5/353
专利代理人唐沛
代理机构西安智邦专利商标代理有限公司
引用统计
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31011
专题其它单位_其它部门
作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
第一作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
孔亮,闫鹏,温志刚,等. 一种使用CMOS探测器的工业相机的自动曝光方法. CN201810470177.6[P]. 2018-12-21.
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2018104701776.pdf(696KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
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