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PST测试与极弱目标模拟系统及PST、探测能力的测试方法
其他题名PST测试与极弱目标模拟系统及PST、探测能力的测试方法
薛勋; 赵建科; 刘尚阔; 李坤; 曹昆; 昌明; 李晶; 张洁; 胡丹丹; 赛建刚; 王争锋; 宋琦; 鄂可伟; 徐亮
2018-12-21
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2018-10-19
授权国家中国
专利类型发明专利
产权排序1
摘要本发明涉及一种PST测试与极弱目标模拟系统及PST、探测能力的测试方法,系统主要包括点源透过率测试系统、极弱目标模拟系统及主控系统;将点源透过率测试与极弱目标模拟两大系统紧密的结合在一起,实现了主要组件的共用性,并通过低气压环境的构建,本发明将点源透过率测试、极弱目标模拟系统的真空度降低到50Pa,点源透过率的测试下限可达到10‑15,极弱目标模拟下限可至+18Mv;较大程度的解决了环境对这两种测试系统的影响。
主权项一种PST测试与极弱目标模拟系统,其特征在于:包括点源透过率测试系统、极弱目标模拟系统及主控系统; 所述点源透过率测试系统包括沿光路依次设置的激光光源系统、斩波器、准直镜组件、接收系统及探测系统;所述点源透过率测试系统还包括准直镜低压气罐、低气压双柱罐、多自由度转台及锁相放大器;待测相机承载于多自由度转台之上,位于准直镜组件的出射光路上;接收系统位于准直镜组件与待测相机之间;探测系统位于待测相机的焦面位置;锁相放大器分别与斩波器和探测系统相连;准直镜低压气罐与低气压双柱罐联通;所述激光光源系统、斩波器、准直镜组件均位于准直镜低压气罐内;所述接收系统、多自由度转台、探测系统及锁相放大器均位于低气压双柱罐内; 所述极弱目标模拟系统包括沿光路依次设置的弱光均匀光源及星点分化板;所述极弱目标模拟系统还包括与点源透过率测试系统共用的准直镜组件、准直镜低压气罐、低气压双柱罐及多自由度转台;所述星点分划板设置在弱光均匀光源与准直镜组件之间并处于准直镜组件焦平面上;所述弱光均匀光源及星点分化板均位于准直镜低压气罐内; 所述主控系统与激光光源系统、弱光均匀光源、斩波器、锁相放大器、接收系统、探测系统、多自由度转台、低气压双柱罐相连。
学科领域G01c25/00
学科门类G01
授权日期2018-12-21
DOIG01C25
申请日期2018-06-21
专利号CN201810644649.5
语种中文
专利状态申请中
申请号CN201810644649.5
PCT属性
公开(公告)号CN108680188A
IPC 分类号G01C25/00 ; G01M11/02
专利代理人汪海艳
代理机构西安智邦专利商标代理有限公司
引用统计
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/30992
专题其它单位_其它部门
作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
第一作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
薛勋,赵建科,刘尚阔,等. PST测试与极弱目标模拟系统及PST、探测能力的测试方法. CN201810644649.5[P]. 2018-12-21.
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