OPT OpenIR  > 其它单位  > 其它部门
一种大口径均匀光源的均匀性测试装置
其他题名一种大口径均匀光源的均匀性测试装置
昌明; 赵建科; 李晶; 薛勋; 曹昆; 胡丹丹
2018-10-26
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2018-10-26
授权国家中国
专利类型实用新型
产权排序1
摘要本实用新型涉及光学测试技术领域,针对现有均匀光源均匀性测试装置中,面均匀性测试装置有效扫描区域不完整,角均匀性测试装置不能通用、结构复杂、难以满足均匀光源出射面直径不断增大的实际需要,提供一种大口径均匀光源的均匀性测试装置,其包括支架、升降装置、平台位置转换装置、载物台、摆臂、滑块、探测器位置转换装置、光亮度探测器以及测量控制系统;升降装置设置在支架上,载物台通过平台位置转换装置设置在升降装置上;载物台设置旋转电机,摆臂安装在旋转电机的输出端;滑块安装在摆臂上,光亮度探测器通过探测器位置转换装置安装在滑块上,光亮度探测器、旋转电机和滑块驱动电机分别与测量控制系统电连接。
主权项一种大口径均匀光源的均匀性测试装置,其特征在于:包括支架(1)、升降装置(2)、平台位置转换装置(3)、载物台(4)、摆臂(5)、滑块(6)、探测器位置转换装置(7)、光亮度探测器(8)以及测量控制系统(9); 所述升降装置(2)设置在支架(1)上,载物台(4)通过平台位置转换装置(3)设置在升降装置(2)上;载物台(4)设置旋转电机,摆臂(5)安装在旋转电机的输出端;滑块(6)安装在摆臂(5)上,并通过滑块驱动电机驱动其沿摆臂(5)移动;所述平台位置转换装置(3)可相对支架(1)旋转,从而使摆臂(5)的旋转平面与水平面垂直或平行; 所述光亮度探测器(8)通过探测器位置转换装置(7)安装在滑块(6)上,探测器位置转换装置(7)用于控制光亮度探测器(8)的探测方向,使探测器的探测方向垂直或平行于摆臂(5)的旋转平面; 所述光亮度探测器(8)、旋转电机和滑块驱动电机分别与测量控制系统(9)电连接,测量控制系统(9)用于实现光亮度探测器(8)探测数据的处理,以及控制旋转电机和滑块驱动电机的运动。
授权日期2018-10-26
申请日期2018-03-23
专利号CN201820401439.9
语种中文
专利状态已授权
申请号CN201820401439.9
PCT属性
公开(公告)号CN208012837U
IPC 分类号G01M11/02
专利代理人倪金荣
代理机构西安智邦专利商标代理有限公司
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/30953
专题其它单位_其它部门
作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
第一作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
昌明,赵建科,李晶,等. 一种大口径均匀光源的均匀性测试装置. CN201820401439.9[P]. 2018-10-26.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
2018204014399.pdf(1189KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[昌明]的文章
[赵建科]的文章
[李晶]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[昌明]的文章
[赵建科]的文章
[李晶]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[昌明]的文章
[赵建科]的文章
[李晶]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。