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一种大口径均匀光源的均匀性测试装置
Alternative Title一种大口径均匀光源的均匀性测试装置
昌明; 赵建科; 李晶; 薛勋; 曹昆; 胡丹丹
2018-10-26
Rights Holder中国科学院西安光学精密机械研究所
Date Available2018-10-26
Country中国
Subtype实用新型
Contribution Rank1
Abstract本实用新型涉及光学测试技术领域,针对现有均匀光源均匀性测试装置中,面均匀性测试装置有效扫描区域不完整,角均匀性测试装置不能通用、结构复杂、难以满足均匀光源出射面直径不断增大的实际需要,提供一种大口径均匀光源的均匀性测试装置,其包括支架、升降装置、平台位置转换装置、载物台、摆臂、滑块、探测器位置转换装置、光亮度探测器以及测量控制系统;升降装置设置在支架上,载物台通过平台位置转换装置设置在升降装置上;载物台设置旋转电机,摆臂安装在旋转电机的输出端;滑块安装在摆臂上,光亮度探测器通过探测器位置转换装置安装在滑块上,光亮度探测器、旋转电机和滑块驱动电机分别与测量控制系统电连接。
Claim一种大口径均匀光源的均匀性测试装置,其特征在于:包括支架(1)、升降装置(2)、平台位置转换装置(3)、载物台(4)、摆臂(5)、滑块(6)、探测器位置转换装置(7)、光亮度探测器(8)以及测量控制系统(9); 所述升降装置(2)设置在支架(1)上,载物台(4)通过平台位置转换装置(3)设置在升降装置(2)上;载物台(4)设置旋转电机,摆臂(5)安装在旋转电机的输出端;滑块(6)安装在摆臂(5)上,并通过滑块驱动电机驱动其沿摆臂(5)移动;所述平台位置转换装置(3)可相对支架(1)旋转,从而使摆臂(5)的旋转平面与水平面垂直或平行; 所述光亮度探测器(8)通过探测器位置转换装置(7)安装在滑块(6)上,探测器位置转换装置(7)用于控制光亮度探测器(8)的探测方向,使探测器的探测方向垂直或平行于摆臂(5)的旋转平面; 所述光亮度探测器(8)、旋转电机和滑块驱动电机分别与测量控制系统(9)电连接,测量控制系统(9)用于实现光亮度探测器(8)探测数据的处理,以及控制旋转电机和滑块驱动电机的运动。
Copyright Date2018-10-26
Application Date2018-03-23
Patent NumberCN201820401439.9
Language中文
Status已授权
Application NumberCN201820401439.9
PCT Attributes
Open (Notice) NumberCN208012837U
IPC Classification NumberG01M11/02
Patent Agent倪金荣
Agency西安智邦专利商标代理有限公司
Document Type专利
Identifierhttp://ir.opt.ac.cn/handle/181661/30953
Collection其它单位_其它部门
Affiliation中国科学院西安光学精密机械研究所
First Author Affilication中国科学院西安光学精密机械研究所
Recommended Citation
GB/T 7714
昌明,赵建科,李晶,等. 一种大口径均匀光源的均匀性测试装置. CN201820401439.9[P]. 2018-10-26.
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