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一种提高光电跟踪系统中脱靶量延时测量精度的方法
Alternative Title一种提高光电跟踪系统中脱靶量延时测量精度的方法
韩俊锋; 徐思旺; 井峰; 阮萍; 谢小平
2018-11-23
Rights Holder中国科学院西安光学精密机械研究所
Date Available2018-11-23
Country中国
Subtype发明专利
Contribution Rank1
Abstract本发明提出一种提高光电跟踪系统中脱靶量延时测量精度的方法,解决了现有运动相移法要求跟踪机构正弦运动周期大于延时时长的限制,同时提高了脱靶量延时的测量精度。该方法首先将模拟目标置于光电跟踪系统的视场中,调节其位置使光电跟踪系统的相机能清晰成像;然后分别控制光电跟踪系统带动其光学镜头及相机做大幅值低频率和小幅值高频率的正弦运动,采用运动相移法测量这两种参数条件下的脱靶量延时,相应分别记为Tc和Ts,综合得到高精度延时为:Tf+Ts×MOD(Tc,Ts),其中MOD(Tc,Ts)表示Tc/Ts的模值。本发明利用系统自身配置,无需增加额外软硬件,能显著提高延时测量精度,简单易行,可实施性强。
Claim一种提高光电跟踪系统中脱靶量延时测量精度的方法,其特征在于,包括以下环节: 1)将模拟目标置于光电跟踪系统的视场中,调节其位置使光电跟踪系统的相机能清晰成像,然后将模拟目标在该位置固定; 2)控制光电跟踪系统带动其光学镜头及相机做大幅值低频率的正弦运动,正弦运动的周期Tz大于预估的脱靶量延时值,正弦运动的幅值应保证整个测量过程中模拟目标不出视场;由光电跟踪系统的电子学单元实时记录角度和脱靶量数据,并采用运动相移法测量脱靶量延时,记为Tc; 3)控制光电跟踪系统带动其光学镜头及相机做小幅值高频率的正弦运动,正弦运动的周期小于Tc,记为Ts,正弦运动的幅值不大于环节2)中的幅值;由光电跟踪系统的电子学单元实时记录角度和脱靶量数据,并采用运动相移法测量脱靶量延时,记为Tf; 4)综合得到高精度延时为:Tf+Ts×MOD(Tc,Ts),其中MOD(Tc,Ts)表示Tc/Ts的模值。
Copyright Date2018-11-23
Application Date2018-03-26
Patent NumberCN201810253349.4
Language中文
Status申请中
Application NumberCN201810253349.4
PCT Attributes
Open (Notice) NumberCN108871374A
IPC Classification NumberG01C25/00 ; G01M11/00
Patent Agent胡乐
Agency西安智邦专利商标代理有限公司
Document Type专利
Identifierhttp://ir.opt.ac.cn/handle/181661/30935
Collection其它单位_其它部门
Affiliation中国科学院西安光学精密机械研究所
First Author Affilication中国科学院西安光学精密机械研究所
Recommended Citation
GB/T 7714
韩俊锋,徐思旺,井峰,等. 一种提高光电跟踪系统中脱靶量延时测量精度的方法. CN201810253349.4[P]. 2018-11-23.
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2018102533494.pdf(1329KB)专利 暂不开放CC BY-NC-SAApplication Full Text
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