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基于多点标定及拟合的红外图像非均匀性校正方法
其他题名基于多点标定及拟合的红外图像非均匀性校正方法
陈耀弘; 谢庆胜; 段程鹏; 易波
2018-12-21
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2018-12-21
授权国家中国
专利类型发明专利
产权排序1
摘要针对现有采用两点定标法进行非均匀性校正的红外热像仪需要增加温控电路和快门组件,增加了红外热像仪机芯的体积、功耗、硬件成本,降低了红外热像仪的工作可靠性以及工作应用场合受限的问题,本发明提供基于多点标定及拟合的红外图像非均匀性校正方法,包括以下步骤:1)通过多本底拟合的方法获取Gij以及通过标定的方法获取Oij;Gij为像元(i,j)的增益系数,Oij为像元(i,j)的偏移系数;2)根据获取的Gij和Oij,通过校正公式Yij=Gij×Xij+Oij,计算得到校正后的输出图像;其中,Xij为像元(i,j)校正前的输出图像;Yij为像元(i,j)校正后的输出图像。
主权项基于多点标定及拟合的红外图像非均匀性校正方法,其特征在于,包括以下步骤: 1)分别获取Gij和Oij;Gij为像元(i,j)的增益系数,Oij为像元(i,j)的偏移系数; 1.1)获取Gij的过程具体包括以下步骤: 1.11)在室温环境下,将红外热像仪正对面源黑体,分别采集黑体的高温、低温本底图像,黑体的高温、低温温度范围设定在红外热像仪的有效响应范围内,且高温与低温之差在15℃之内; 1.12)通过高温、低温本底图像计算得到增益系数Gij,将Gij存储在红外热像仪的EPROM中; 1.2)获取Oij的过程具体包括以下步骤: 1.21)将红外热像仪和黑体放置在环境温度试验箱内,使红外热像仪正对黑体; 1.22)调节环境温度试验箱的箱内温度最低至-20℃;保持环境温度试验箱内温度稳定并持续T小时后开启红外热像仪,2≥T≥1; 1.23)持续监测红外热像仪的探测器焦平面温度数据,待温度数据稳定后,记录探测器焦平面温度数据并采集定标图像; 1.24)以相同的n℃为间隔上调环境温度试验箱的箱内温度,箱内温度每上调一次后,重复步骤1.23),n取3~7以内的任一整数,上调后的箱内最高温度最接近50℃且不超过50℃; 1.25)将步骤1.23)至1.24)中,多个像元分别对探测器焦平面温度数据和定标图像灰度值进行高阶拟合;得到不同恒定温度下,定标图像灰度值与探测器焦平面温度数据的拟合系数F;将拟合系数F存储在红外热像仪的EPROM中; 1.26)红外热像仪根据其探测器监测到的实时温度及步骤1.25)得到的拟合系数F,计算获得Oij; 2)根据获取的Gij和Oij,通过校正公式Yij=Gij×Xij+Oij,计算得到校正后的输出图像; 其中,Xij为像元(i,j)校正前的输出图像; Yij为像元(i,j)校正后的输出图像。
授权日期2018-12-21
申请日期2018-07-19
专利号CN201810796057.5
语种中文
专利状态申请中
申请号CN201810796057.5
PCT属性
公开(公告)号CN109060140A
IPC 分类号G01J5/00
专利代理人倪金荣
代理机构西安智邦专利商标代理有限公司
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/30891
专题其它单位_其它部门
作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
第一作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
陈耀弘,谢庆胜,段程鹏,等. 基于多点标定及拟合的红外图像非均匀性校正方法. CN201810796057.5[P]. 2018-12-21.
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