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高通量宽谱段高分辨率的相干色散光谱成像装置
其他题名高通量宽谱段高分辨率的相干色散光谱成像装置
陈莎莎; 魏儒义; 严强强; 吴银花
2018-12-21
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2018-12-21
授权国家中国
专利类型实用新型
产权排序1
摘要本实用新型属于光谱成像领域,涉及一种高通量宽谱段高分辨率的相干色散光谱成像装置。包括沿光路依次设置的第一准直系统、第一光栅、第一透镜、像切分器、第二透镜、广角迈克尔逊干涉仪、柱透镜、狭缝、第二准直系统、第二光栅、成像镜及光电探测器;所述狭缝位于柱透镜的焦点处;解决了传统的高精度交叉色散阶梯光栅光谱仪和相干色散光谱仪这两种光谱成像方法中存在的光通量低、光电探测器靶面大小限制光谱展宽、光谱范围越宽条纹对比度越差、高的光谱分辨率会使光电探测器单个像元信噪比减小、交叉色散引起光谱谱线弯曲等问题。
主权项一种高通量宽谱段高分辨率的相干色散光谱成像装置,其特征在于:包括沿光路依次设置的第一准直系统、第一光栅、第一透镜、像切分器、第二透镜、广角迈克尔逊干涉仪、柱透镜、狭缝、第二准直系统、第二光栅、成像镜及光电探测器;所述狭缝位于柱透镜的焦点处; 目标光源经过第一准直系统准直后入射至第一光栅,经第一光栅色散,入射至第一透镜汇聚后,通过像切分器将宽谱段的光切分成若干窄谱段,并将窄谱段沿不同角度反射至第二透镜,且反射方向垂直于第一光栅的色散方向,第二透镜将经像切分器反射的光汇聚后入射至广角迈克尔逊干涉仪产生干涉条纹,从广角迈克尔逊干涉仪出射的干涉条纹经过柱透镜汇聚到狭缝处,经过狭缝之后,再通过第二准直系统将光线准直,并入射到第二光栅上,并沿着与干涉条纹垂直的方向继续色散后在成像镜成像,光电探测器接收得到的干涉条纹图像。
授权日期2018-12-21
申请日期2018-05-16
专利号CN201820728778.8
语种中文
专利状态已授权
申请号CN201820728778.8
PCT属性
公开(公告)号CN208270077U
IPC 分类号G01J3/45 ; G01J3/28
专利代理人汪海艳
代理机构西安智邦专利商标代理有限公司
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/30888
专题其它单位_其它部门
作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
第一作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
陈莎莎,魏儒义,严强强,等. 高通量宽谱段高分辨率的相干色散光谱成像装置. CN201820728778.8[P]. 2018-12-21.
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