| 一种光学系统立式装检装置及装检方法 |
| 康晓鹏; 付兴; 李华; 王鹏; 刘军鹏
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| 2016-05-16
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| 公开日期 | 2016-08-31
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| 授权国家 | 中国
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| 专利类型 | 发明
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| 摘要 | 本发明公开了一种光学系统立式装检装置及装检方法，属于精密光学应用技术领域，该装检装置包括调整转台及在调整转台上自下至上依次设置的3个调整支架；调整转台用于放置被装检零件，3个调整支架安装在一固定安装架上，自下至上分别为补偿镜调整支架、干涉仪调整支架和自准平面镜调整支架；3个调整支架均包括竖向导轨和横向导轨，所述竖向导轨与固定安装架固连，横向导轨能够沿竖向导轨上下滑动；本发明能够避免由于重力原因引起的面形问题，装检光路可自由组合调节，可满足不同光学系统的检测需求。 |
| 主权项 | 0001.1.一种光学系统立式装检装置，其特征在于：包括调整转台及在调整转台上自下至上依次设置的3个调整支架；调整转台用于放置被装检零件，3个调整支架安装在一固定安装架上，自下至上分别为补偿镜调整支架、干涉仪调整支架和自准平面镜调整支架；
3个调整支架均包括竖向导轨和横向导轨，所述竖向导轨与固定安装架固连，横向导轨能够沿竖向导轨上下滑动；
所述补偿镜调整支架还包括补偿镜；所述补偿镜设置在横向导轨上，能够沿横向导轨左右滑动；
所述干涉仪调整支架还包括激光干涉仪；所述激光干涉仪设置在横向导轨上，能够沿横向导轨左右滑动；
所述自准平面镜调整支架还包括自准平面镜；所述自准平面镜设置在横向导轨上，能够沿横向导轨左右滑动。 |
| 授权日期 | 2016-09-28
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| 专利号 | CN201610322142.9
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| 语种 | 中文
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| 专利状态 | 审查中-实审
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| 文献类型 | 专利
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| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/29808
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| 专题 | 装校技术研究中心
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| 作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
康晓鹏,付兴,李华,等. 一种光学系统立式装检装置及装检方法. CN201610322142.9[P]. 2016-05-16.
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