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题名:
颗粒物后向散射系数偏振敏感性测量装置
作者: 刘佳2; 何贤强1; 柳稼航2; 白雁1
申请日期: 2016-06-14
专利国别: 中国
专利号: CN201610421710.0
专利类型: 发明
专利状态: 审查中-实审
中文摘要:

本发明提供了一种颗粒物后向散射系数偏振敏感性测量装置,该测量装置包括固定框架、后向散射仪、偏振组件,该固定框架上设有偶数个光孔;光孔包括出射光孔和散射光孔,出射光孔与散射光孔之间一一对应;偏振组件安装于出射光孔处,且光能够垂直通过偏振组件穿过光孔入射到悬浮颗粒物水体中,经过颗粒物散射之后通过散射光孔返回颗粒物后向散射仪。通过该固定装置,将线偏振组件固定于颗粒物后向散射仪垂直光路中上,检测水箱内悬浮泥沙水体的后向散射系数。通过本发明提供的装置,能够探究光源偏振对颗粒物后向散射系数测量精度的影响,能够更精确的检测悬浮颗粒物水体的后向散射系数,实现水质及近岸海洋光学研究的目的。

主权项: 0001.1.一种用于颗粒物后向散射系数偏振敏感性测量的固定装置,其特征在于,包括固定框架,所述框架上设有偶数个光孔; 所述光孔包括出射光孔和散射光孔,所述出射光孔与所述散射光孔之间一一对应; 偏振组件安装于所述出射光孔上,且光路垂直通过所述偏振组件。
公开日期: 2016-09-07
语种: 中文
内容类型: 专利
URI标识: http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/29781
Appears in Collections:遥感与智能信息系统研究中心_专利

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CN_105928905_A.pdf(137KB)专利--开放获取View 联系获取全文

作者单位: 1.国家海洋局第二海洋研究所
2.中国科学院西安光学精密机械研究所

Recommended Citation:
刘佳,何贤强,柳稼航,等. 颗粒物后向散射系数偏振敏感性测量装置. CN201610421710.0. 2016-06-14.
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