| 一种外触发光路切换系统中无渐晕最长曝光时间的测量方法 |
| 韩俊锋; 高昕; 李大伟; 唐嘉; 关璐玮; 马彩文
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| 2016-11-01
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公开日期 | 2017-04-19
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授权国家 | 中国
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专利类型 | 发明
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摘要 | 本发明提供一种直接测定外触发光路切换系统中无渐晕最长曝光时间的方法,不要求系统具有位置和速度传感器等,更接近于实际应用,直接反应系统的工作特性。该测量方法通过改变相机外触发信号与切换系统中电机同步信号之间的相位关系,实现光斑在光路切换机构上的相对运动;逐渐改变相位关系的过程中,对照相机输出的相应图像,最终分别确定出光斑恰好完全入射到反射镜(或通孔)和恰好刚刚开始切出反射镜(或通孔)的临界时刻;逐渐改变相位关系的过程中,因相位移动使得图像的灰度下降的时刻即为这两个临界时刻,这两个临界时刻之差即为无渐晕最长曝光时间。 |
主权项 | 0001.1.一种外触发光路切换系统中无渐晕最长曝光时间的测量方法,其特征在于:
改变相机外触发信号与切换系统中电机同步信号之间的相位关系,实现光斑在光路切换机构上的相对运动;逐渐改变相位关系的过程中,对照相机输出的相应图像,最终分别确定出光斑恰好完全入射到反射镜和恰好刚刚开始切出反射镜的临界时刻,或者最终分别确定出光斑恰好完全入射到通孔和恰好刚刚开始切出通孔的临界时刻;
逐渐改变相位关系的过程中,因相位移动使得图像的灰度下降的时刻即为这两个临界时刻,这两个临界时刻之差即为无渐晕最长曝光时间。 |
授权日期 | 2017-05-17
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专利号 | CN201610935168.0
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语种 | 中文
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专利状态 | 审查中-实审
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文献类型 | 专利
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条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/29744
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专题 | 光电跟踪与测量技术研究室
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作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所
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推荐引用方式 GB/T 7714 |
韩俊锋,高昕,李大伟,等. 一种外触发光路切换系统中无渐晕最长曝光时间的测量方法. CN201610935168.0[P]. 2016-11-01.
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