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一种光学系统测试用快速定位装置及定位方法
张洁; 焦璐璐; 张欢; 赵怀学; 周艳; 胡丹丹; 薛勋; 郭毅; 刘峰; 段亚轩; 赛建刚
2016-03-31
公开日期2016-08-10
授权国家中国
专利类型发明
摘要本发明属于光学检测领域,公开了一种光学系统测试用快速定位装置及定位方法,通过本发明的定位装置记录下标准光学系统在测试设备上的测试姿态,更换被测光学系统后,在测试设备上复现该姿态,该姿态通过本发明的定位装置进行了一系列转换,基准镜法线方向代表光学系统的测试姿态,自准直光管光轴作为标准姿态的基准,再更换被测光学系统时,只需通过二维调整台将基准镜法线调至与自准直光管光轴平行即可实现姿态复现。本发明结构简便,定位准确性高,适合批量化产品的流水线作业,定位结束后,可直接进行相应指标的测试,免去了传统测试前的调试过程。
主权项0001.1.一种光学系统测试用快速定位装置,其特征在于:包括瞄准单元、光学系统定位单元及姿态调整单元; 所述瞄准单元包括自准直光管和监视器; 所述光学系统定位单元包括基准板和基准镜; 所述姿态调整单元包括二维调整台和单轴转台; 所述二维调整台和基准板自下至上依次设置在单轴转台上;二维调整台用于调整基准板的方位及俯仰方向; 标准光学系统和所述基准镜分别安装在基准板上;所述监视器与自准直光管电连接,自准直光管朝向基准镜、用于对基准镜进行自准直,监视器用于监控自准直光管十字光标经基准镜返回的十字光标像。
授权日期2016-09-07
专利号CN201610200692.3
语种中文
专利状态审查中-实审
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/29680
专题检测技术研究中心
作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
张洁,焦璐璐,张欢,等. 一种光学系统测试用快速定位装置及定位方法. CN201610200692.3[P]. 2016-03-31.
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