Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
具有同步控制功能的点源透过率杂光测试系统及方法 | |
马臻; 陈钦芳; 白永林; 樊学武 | |
2019-03-08 | |
专利权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 发明专利 |
产权排序 | 1 |
摘要 | 本发明公开一种具有同步控制功能的点源透过率杂光测试系统及方法,属于杂光测试领域。光源出射的脉冲激光经平行光管准直后出射平行光,一部分光直接进入待测光机系统,该部分光为信号光;其中一部分光经待测光机系统表面散射后照亮环境内壁,再由内壁散射返回待测光机系统,该部分光为环境光污染。相对于信号光,环境光污染须经历更长的光程和时间到达系统像面,具有一定的时间滞后,当信号光达到系统焦面时,同步控制系统控制探测器快门打开,接收信号光;而当环境光污染到达系统焦面时,快门处于关闭状态。本发明可有效抑制环境光污染,提高点源透过率杂光测试系统的精度。 |
主权项 | 0001.1.一种具有同步控制功能的点源透过率杂光测试系统,包括沿光路依次设置的脉冲光源系统、平行光管和待测光机系统,还包括具有外同步控制功能的探测系统、信号采集处理系统和转台,所述待测光机系统或平行光管位于转台上;所述探测系统位于待测光机系统的焦面上,所述信号采集处理系统采集探测系统的信号,其特征在于:还包括同步控制系统,所述探测系统和光源系统均与同步控制系统连接,所述同步控制系统用于按照延迟的预设时间控制探测系统快门的开启并按照快门开启持续时间控制探测系统快门的开启时长。 |
授权日期 | 2019-03-08 |
申请日期 | 2016-10-28 |
专利号 | CN201610969961.2 |
语种 | 中文 |
专利状态 | 已授权 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/29673 |
专题 | 先进光学元件试制中心 |
作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 马臻,陈钦芳,白永林,等. 具有同步控制功能的点源透过率杂光测试系统及方法. CN201610969961.2[P]. 2019-03-08. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
具有同步控制功能的点源透过率杂光测试系统(410KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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