OPT OpenIR  > 空间光学技术研究室
一种位姿测算光学仪器及调试方法
柴文义; 许哲; 宋宗玺; 袁灏; 朱波; 黄超
2016-12-29
公开日期2017-04-26
授权国家中国
专利类型发明
摘要本发明涉及光学测量装置领域,具体涉及一种位姿测算光学仪器及调试方法。主要解决了现有的位姿测算仪器测算数据可信度低、不能承受严酷的力学和热学环境,位姿测算光学仪器调试过程复杂的问题。位姿测算光学仪器包括光学相机、多个激光器组件和光学镜头;所述激光器组件和光学镜头均设置于光学相机上,光学相机设置有图像探测器和图像数据处理电路;光学镜头的光轴与图像探测器的视轴重合,光学镜头的光轴与图像探测器感光面垂直;激光器组件包括激光器和调整垫,调整垫设置于激光器与光学相机之间,多个激光器组件以光学镜头的光轴为中心沿圆周方向均布,激光器的光轴与光学镜头的光轴形成一定的夹角。
主权项0001.1.一种位姿测算光学仪器,其特征在于:包括光学相机、多个激光器组件和光学镜头; 所述激光器组件和光学镜头均设置于光学相机的同一平面上;所述光学相机设置有图像探测器和图像数据处理电路;所述光学镜头的光轴与图像探测器的视轴重合,光学镜头的光轴与图像探测器感光面垂直,光学镜头中心与图像探测器中心为同轴设置;所述激光器组件包括激光器和调整垫,调整垫设置于激光器与光学相机之间,多个激光器组件以光学镜头的光轴为中心沿圆周方向均布,所述激光器的光轴与光学镜头的光轴形成一定的夹角。
授权日期2017-05-24
专利号CN201611250238.5
语种中文
专利状态审查中-实审
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/29555
专题空间光学技术研究室
作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
柴文义,许哲,宋宗玺,等. 一种位姿测算光学仪器及调试方法. CN201611250238.5[P]. 2016-12-29.
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