| 一种基于时间分辨的点源透过率杂散光测试系统及方法 | |
| 陈钦芳; 许亮; 丁蛟腾; 马臻; 温文龙 | |
| 2017-06-12 | |
| 公开日期 | 2017-09-08 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 摘要 | 本发明涉及一种基于时间分辨的点源透过率杂散光测试系统及方法，系统包括沿光路依次设置的脉冲激光光源系统、光源整形系统、平行光管、待测光机系统、探测系统，还包括转台和信号采集和处理系统，脉冲激光光源系统出射的光经平行光管进入待测光机系统，到达待测光机系统的焦面，探测系统测量待测光机系统焦面处辐射能量随时间的分布，信号采集和处理系统计算离轴角度θ的点源透过率PST(θ)，统计bji(θ)，求解LJj(θ)，转动转台角度，测量不同离轴角度下杂散光传输时间分布特性曲线、点源透过率PST(θ)及Jj(θ)。本发明分析待测光机系统杂散光传输的时间分布特性与杂散光路径的关系，对系统杂散光问题的分析、定位和控制具有重要指导意义。 |
| 主权项 | 0001.1.一种基于时间分辨的点源透过率杂散光测试系统，其特征在于：包括沿光路依次设置的脉冲激光光源系统(1)、光源整形系统(2)、平行光管(3)、待测光机系统(4)、探测系统 (5)，还包括转台(6)和信号采集和处理系统(7)，所述待测光机系统(4)或平行光管(3)位于转台(6)上；所述探测系统(5)位于待测光机系统(4)的焦面上，所述信号采集和处理系统 (7)采集探测系统(5)的信号，所述探测系统(5)为具有时间分辨率的探测系统。 |
| 授权日期 | 2017-10-10 |
| 专利号 | CN201710438658.4 |
| 语种 | 中文 |
| 专利状态 | 审查中-实审 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/29506 |
| 专题 | 空间光学技术研究室 |
| 作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈钦芳,许亮,丁蛟腾,等. 一种基于时间分辨的点源透过率杂散光测试系统及方法. CN201710438658.4[P]. 2017-06-12. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN_107144421_A.pdf（582KB） | 专利 | 限制开放 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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